AS系列3D线光谱共焦传感器

多层表面3D同时测量，精度可达0.05um

通过白光分光成连续波长的光谱，每个波长聚焦在被测物体表面的特定位置，形成垂直焦平面，获取物体的三维形貌、纹理特征和光谱数据。

产品特性：

精度高、速度快

亚微米级分辨率，Z轴重复精度50nm

测量功能丰富易集成

丰富的3D测量功能，SDK接口简洁、兼容性高

测量不受材质和外界环境影响

可测量几乎所有材质，无需对待测物进行任何处理即可直接测量。内置测量和检测软件

一次性测量多层透明材料

基于光谱共焦技术，一次扫描实现多层形貌测量。

每条轮廓生成2048个点，可精确描绘物体形状，实现精密测量

○ X 分辨率达 2 微米                     

○ 满景深测量速度为 5000HZ                      

○ 集成测量软件与丰富的测量工具

○ Z 方向景深为 3 毫米                   

○ Z 轴重复精度为 0.05 微米

多材质适应性，满足多样化材料需求，兼容各类复杂材质

传感器能够有效避免强反射光对测量结果的影响， 即使在透明、半透明、镜面、高反光、高吸光材料上也能获得清晰的 3D 成像。

内置测量软件和丰富的测量工具

调试内容丰富，流程简单易上手，多种测量工具满足样件的测量需求。

多层检测  精准覆盖每一层细节

基于横向色相差的光学检测方法，可通过一次扫描，构建多个透明层的 2D和 3D 数据，实现多层检测。