封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列

 
 
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品牌 优可测
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更新 2026-08-18 10:56
 
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板石智能科技(深圳)有限公司

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详细说明

超快扫描速度:垂直扫描速度,是传统机型的5倍; 

全自动测量:极简操作,轻松在线编程设定,自动测量; 

离线分析:可调取原始数据进行二次特定分析; 

离线编辑:通过ODB++程序进行离线编辑 (选购); 

丰富的测量功能。


丰富的测量功能

线宽检测

线宽(顶部、中间、底部)、线距(上部、中间、下部)、平均值输出。

线距检测

在测量 ROI 内,根据设定,抓取线条上的(具有一定宽度)两边边缘上的 N 个点, 拟合成两条直线,计算两条直线的平均距离。

直径检测

在圆形测量 ROI 内,根据设定,抓取圆边缘上的 N 个点,使用算法拟合成最佳圆, 然后计算圆的直径。

高度检测

在测量 ROI 内,通过算法识别底面与铜面,将底面平面区域通过算法拟合平面, 计算铜面区域到底面拟合平面的高度

dimple

直径,凹坑深度,Ra~Rz

pad

直径、Ra~Rz、高度、凹坑深度。

盲孔检测

结合了直径、高度、锥度、真圆度功能及算法,可以一次性测量盲孔的外直径、内直径、 真圆度、锥度、孔深。

粗糙度检测

符合ISO标准的专业粗糙度分析,可对铜面、基材、油墨、ABF膜等进行线粗糙度Ra、 Rz、Rq和面粗糙度Sa、Sz、Sq的测量。

防焊开口检测

顶部直径(最大,最小,平均)、底部直径(最大,最小,平均)、中部直径((最大,最小,平均)、 坡度、SR高度、圆度。

客制化

(1)预留功能模块,可根据客户的需求开发专属功能  

(2)针对特殊工艺的检测需求进行测量工具定制

(3)机台硬件亦可定制。


超高测量精度

RMS重复性    0.005nm

台阶高度准确性   0.3%

XY最高重复精度   XY水平分辨率0.19um


软件算法保证

行业专精算法

通过深入研究PCB行业的各个检测流程和要求,模拟真实使用场景,开发出专门针对封装基板行业应用的软件算法。

1.使用和切片的原理类似的方法进行高度方向和宽度方向的检测,更贴近实际生产过程管控

2.自动测量时具备多级自动纠正功能,避免由于工艺涨缩偏移 等物理因素导致的测量位置不准确问题。

3.具备标准的粗糙度分析算法,以及更全面的分析功能,更好的帮助客户定位生产过程中的问题。

由于生产工艺的线路边缘一般是平滑过度,优可测的线宽/线距 算法是取线顶部到底部的高度一定百分比的位置做为边缘点, 这种算法可根据产品特征和制成管控要求调整参数,以此获得稳定且准确的数据。

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