通过柱面物镜将激光扩散为线激光后投射在目标物表面形成漫反射。使反射光在 CMOS 上成像后,通过检测位置及形状的变化测量位移和形状。
产品特性
4096点高超进度
高速扫描无损数据质量
Z轴超高精度
反光表面轻松测

轻巧体型

丰富测量工具

丰富型号可选
专业售后支持
应用示例
Type-c-段差


电池壳体3D外观检测
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通过柱面物镜将激光扩散为线激光后投射在目标物表面形成漫反射。使反射光在 CMOS 上成像后,通过检测位置及形状的变化测量位移和形状。
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