XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、配 位数、位形与键长。

TableXAFS-500谱仪系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量，在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。

产品特点

主要参数

应用领域

新能源：储能电池、燃料电池、光催化、储氢材料、碳捕获；

催化：多相催化、纳米颗粒催化剂、单分子催化剂；

环境科学：矿物、工业制品中重金属元素价态和化学性质分析；

材料科学：复杂体系与无序材料、放射性核素、表面及界面研究、电致变色材料等；

生命科学：金属生物大分子、仿生材料及机理研究、药物毒理研究，以及金属在生命体中动态迁移过程研究等。