Von Hamos柱面弯晶谱仪

Von Hamos柱面弯晶谱仪采⽤柱面弯晶对弧矢方向光束进行聚焦，子午方向⾊散分光，该谱仪具有高分辨率和高效率等特点，同时可以通过晶体的扫描或多通道模式，获得较宽的测谱范围。

产品特点

● ⾃主弯晶器件

● ⾼分辨率

● ⾼效率

● ⾼真空兼容

● 兼容CCD、IP板探测

● 具备⾼精度瞄准系统

主要参数

● 光谱仪型号：XSpeC-VH

● 能量范围：6~8keV(可定制)

● 分光器件：SiO2 (10-10)

● 兼容CCD、IP板探测

● 兼容真空度：5.0×10-3 Pa

● 具备辐射屏蔽功能

● 能谱离线标定

● 能量分辨本领: (Res.P=E/dE) : R>3000,晶体 @ 6.8 keV &7.9keV

测试数据