透射弯晶谱仪，利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置，同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征，特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断。

产品特点

● ⾃主弯晶器件

● ⾼能谱分辨

● 宽能谱范围

● 可切换式探测模组

● 全谱直读

● 可切换式激光准直系统

主要参数

● 光学系统结构: 透射弯晶系统

● 分光器件： α-Quartz<10-11>

● 能量分辨率： 优于100eV@20keV

● 探测器类型： 可切换式IP板

● 激光器切换重复精度： ±10μm

测试数据

选配范围(⽀持定制)