VersaXRM 730 X射线显微镜

出色的分辨率与出众的性能相得益彰——蔡司VersaXRM 730

蔡司VersaXRM™ 730配备特色的40×-Prime物镜，可在30-160 kV的范围内提供450-500 nm分辨率的亚微米成像。其ZEN navx™自动化用户导航和控制系统以及由人工智能驱动的DeepRecon Pro可简化工作流、优化图像质量并提高通量。为了提高操作便捷性，该设备经过精心设计，支持广泛的用户群体，让您的整个团队都能轻松掌握高级研究功能。

大工作距离高分辨率

RaaD的多功能优势  蔡司Xradia Versa所提供的两级放大技术实现了大工作距离下的高分辨率成像（RaaD），使您能够更高效地研究各种尺寸的样品，包括在原位样品仓内的样品。   与传统microCT相同，图像首先通过几何投影放大，随后投射到闪烁体上，将X射线转换为可见光图像，然后通过显微镜光学元件进行光学放大，最后由CCD探测器采集图像。 降低了对几何放大倍率的依赖，使蔡司Xradia Versa解决方案在较长工作距离内也可保持低至500 nm的亚微米空间分辨率。

ZEN navx以人为本设计的导航和控制

ZEN navx导航和控制系统 蔡司研发人员对XRM用户进行了深入调研，以了解其面临的问题与挑战，包括用户偏好、实验补偿和应变方法。我们的专家团队通过这些数据，开发出系统内置导航、自动化工作流及智能系统方法，帮助新手用户更轻松高效地获取结果。对于专家级用户，ZEN navx提供显著的效率优势，解锁系统的全面功能，使其能够深入探索蔡司Versa XRM的各种功能。ZEN navx还提供类似信息图表的可视化功能，帮助您理解诸如图像分辨率、观察视野及效率之间的参数权衡。 ZEN navx包含一个内嵌式三维查看器，用于整合Volume Scout的功能，实现端到端三维导航。这简化了样品读取过程，可准确定位并识别特定的感兴趣区域，以获得分辨率更高的成像。 其余功能还包括ZEN navx文件传输工具（又称FTU），它可在您需要之时将显微镜数据准确放置于所需之处，从而避免了手动将数据从系统传输至工作站或随身携带硬盘进行存储的麻烦。此外，SmartShield功能在ZEN navx的支持下，可保护您的系统及样品免受损坏。

作为红点2024最佳界面奖获奖设计，ZEN navx直观的导航模式反映了XRM用户群的演变过程，无缝集成的工作流革新了X射线的导航和控制方式。与使用ZEN环境的其他蔡司平台相结合，其亦补充了高级关联工作流的规划和执行。

 ZEN navx适用于高级VersaXRM平台：VersaXRM 730和VersaXRM 615。

一分钟断层扫描

采用快速采集扫描技术（FAST）实现一分钟断层扫描  

平板探测器技术（FPX）为FAST模式赋能 蔡司VersaXRM的FAST模式可通过连续的运动扫描，快速对所有样品进行三维图像采集。结合可选配的平板探测器（FPX），该模式可在X射线图像采集过程中以各种角度进行不间断的样品旋转，降低了传统步进式采集模式的延时。这使得在曝光时间低于0.5秒（对于大型、灵敏的FPX探测器而言，通常是这种情况）时，扫描速度得到了显著提升。预计采集时间一般在1分钟内至5分钟，若对图像质量要求较为宽松，采集时间甚至可低于20秒。 得益于ZEN navx内的Volume Scout工作流，FAST模式可对所有样品进行真正近乎实时的三维导航。FAST模式采集与Volume Scout无缝集成，可在复杂样品中实现近乎即时的反馈，并对准确的感兴趣区域进行真正的三维导航。

原位和四维研究

突破科学进步的极限  

蔡司Versa X射线显微镜提供业内优异的三维成像解决方案，适用于高压流动池、拉伸装置、压缩装置以及热台等多种原位装置。利用X射线研究的无损性质，让您的研究超越三维空间，扩展到时间维度，实现四维实验。 这些研究要求样品远离X射线源，以安放各种类型的原位装置。在传统的microCT系统中，这一要求大大限制了样品能够达到的分辨率。蔡司Versa XRM采用两级放大架构和大工作距离高分辨率（RaaD）技术，确保高分辨率原位成像。 蔡司Versa XRM平台支持各种原位装置，包括用户自定义设计。您可以为蔡司Xradia XRM添加可选配的原位接口套件，包括机械集成套件、坚固耐用的布线导槽和其他设施（馈入装置），以及能够在Versa Scout-and-Scan或ZEN navx用户界面内简化控制的测试规程软件。如果您的需求已经超过了原位实验的分辨率极限，可将蔡司Xradia microCT或XRM升级为VersaXRM 730 X射线显微镜，并利用RaaD技术实现原位样品仓或装置内样品的高性能断层扫描成像。