Sigma 360 场发射扫描电子显微镜

Sigma 360分析测试平台的理想之选，直观的图像采集

从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观的成像工作流。

可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和优化的衬度。

可在极端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。

聚苯乙烯，使用NanoVP lite模式成像。

直观的工作流：从设置到获取结果，每一步都有详细的指导，即使是新手用户也能快速上手。蔡司SmartSEM Touch软件自动化了导航、参数设置和图像采集等步骤，大大简化了操作流程。

卓越的分辨率：在1 kV和更低电压下，Sigma360能够分辨出细微的差异，提供更高的分辨率和对比度。其配用的蔡司Gemini1电子光学镜筒在低电压条件下也能保持出色的成像分辨率。

可变压力成像：在极端条件下，Sigma360能够执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。NanovP lite模式和新探测器让用户在低于5 kV的电压下也能轻松获取高质量数据。

强大的后期处理工具：ZEN core软件提供了针对具体任务的工具包，包括人工智能工具包，可基于机器学习进行图像分割。此外，还可以将多模式实验与Connect Toolkit相结合，或使用Materials应用程序分析显微结构晶粒尺寸或涂层厚度。

广泛的适用性：Sigma360适用于各种样品类型，包括要求苛刻的样品和在可变。在可变压力(VP)模式下采用背散射探测。无论是聚合物界面处的裂纹形成和附着力分析，还是材料科学中的微观结构研究，都能轻松应对。

Sigma360的低电压分辨率目前规定500V时为1.9nm，通过减少色差影响，已实现将1KV的分辨率提高10%以上。