GeminiSEM 360 场发射扫描电子显微镜

高样品灵活性

GeminiSEM 360是用于分析测试平台的理想设备，为材料和生命科学、工业领域提供了至臻的功能性。

同名的Gemini 1电子光学设计提供表面灵敏的高分辨率图像，即使在低电压条件下仍具有出色的分辨率，并在高探针电流条件下提供快速成像。

Inlens二次电子成像和背散射电子成像可同时收集高分辨率的表面形貌和复合成分衬度信息（对电子束敏感样品亦是如此）。

在低真空条件（即可变压力）下对绝缘样品进行成像时，无需牺牲Inlens衬度：NanoVP保证了出众功能，确保在不受荷电影响的情况下进行Inlens成像。

出色的用户体验

GeminiSEM 360带来良好的用户体验：凭借其宽阔的观察视野和高度个性化的全新样品仓，即使在面对超大型样品时也能轻松检测。

通过蔡司ZEN Connect实现的关联式成像和关联显微技术，让您畅享无缝导航。

使用自动功能（如自动聚焦功能和智能探测器），轻松获得清晰图像。

几何对称设计的EDS端口和共面式EDS/EBSD几何结构，让您在执行高效成像和分析工作流程时更加游刃有余。

蔡司Predictive Service（预防性维护）可让您充分利用系统运行时间，尽享随时进行定期维护的优势。

杰出的拓展能力

系统可不断升级是保障您的投资的前提条件。因此，GeminiSEM 360也是蔡司ZEN core软件生态系统中的一员，让您能够畅享系统升级的便利。

ZEN Connect可结合多模态和多尺度数据，ZEN Intellesis用于高级人工智能所支持的图像分割，ZEN的分析模块用于报告和分析分割的数据，ZEN数据存储让您可以通过连接实验室中不同设备采集的数据来集中管理项目。

作为APEER社区的成员，您可访问其他用户创建的工作流和脚本，从而远程帮助您解决难题。

由于提供明确的升级路径，系统可随新功能的发布得到进一步提升。