蔡司Axio Imager 2 Pol用于研究任务的偏光显微镜

您是否正在寻找一款能够可靠完成复杂任务、生成出色检测结果且易于操作的显微镜？用于偏光显微观察的蔡司Axio Imager将是您的不二之选。该显微镜有编码型、部分或全电动版本可供选择，以满足您的个性化需求。

自动组件识别

可靠的长时间成像

功能广泛

自动组件识别技术值得信赖

由于采用了自动组件识别ACR（Automatic Component Recognition）技术，您可以全程信任显微镜设置。所有电动主机架皆可自动识别物镜。此外，ACR技术还能在全电动Z系列主机中识别反射光模块。Axio Imager可自动登记组件的更换。

无振动设计确保可靠的长时间成像

借助Axio Imager出色的稳定性可实现随时间变化的测量和高放大倍率观察。物镜转盘、z轴升降台和载物台设计成一个紧凑式无振动单元，独立于主机架的其余部分。这种称为“stable cell”的结构设计能够创造理想的测量条件，获得高质量的观测结果。

扩展功能令操作更舒适

使用触摸屏控制所有电动部件，保存个性化设置并轻松实现一键还原。借助符合人体工程学设计的控件直观操作对焦驱动，或者通过完全独立于主机架的控制面板来驱动系统。衬度和光强管理器可自动选择理想设置，因此能够生成可重复且可靠的结果。

应用

地质学和矿物

方法

快速可靠的锥光镜

偏光显微镜能够同时采集无畸变和锥光的图像信息。借助特殊设计的偏光镜筒，物体、十字准线和可变光阑同时可见。得益于调节型可变光阑，它也适用于锥光观测范围最小为10 µm的晶体尺寸。预先对中的勃氏镜光学元件可直接开关。因此，在捕捉图像视频时能够快速进行技术切换。

始终如一的测量性能

● 借助带有360°刻度和0.1°游标尺的旋转、球轴安装式载物台可轻松实现测量（如用于测量矿物的解理角）
● 光程差测定或应变测量 

带有固定光程差的补偿器

● 全波片λ
● 四分之一波片λ / 4
● 全波片λ，可旋转角度+/- 8°
● 有多种光谱补偿器可选，可覆盖从0至30 λ的测量范围

具有可变光程差的补偿器

● 光楔补偿器 0-4 λ
● 测量补偿器：
   ○ Berek倾斜补偿器0-5 λ
   ○ Berek倾斜补偿器0-30 λ

热显微技术与数字分析

Axio Imager还可提供更多方法，例如：

热显微技术

使用蔡司ZEN core软件进行数字分析（如借助晶粒尺寸分析或Particle Analyzer）

相关应用

燃料电池、低维材料、光子学、半导体、多尺度电池成像、微流控和纳流控