KN-X5000A 3D显微视觉系统

微米级检测精度   图形化编程界面   集成式结构设计   全新AI检测算法

μm级精度的真彩缺陷检测与三维尺寸测量

结构设计紧凑，易于集成至现有设备及产线

具备直观的图形化编程界面，易于二次开发

AI算法库加持，可应对不同场景的检测需求

软件功能

流程画布

具备图形视窗，支持拖入算子并链接为检测流程，无需编程操作

算子工具库

硬件结构

一体式设计

成像CMOS

60fps全局快门，成像无拖影

集成同轴光源、可替换环形光源

自带同轴、环形、组合、多色、偏光、DIC照明模式

电动光学变倍镜筒

自动化实现10档光学变倍，兼顾精度与效率

可替换物镜

覆盖20x-10000x放大，一拧即换

模块全自研

成像模组、对焦Z模组、控制器即插即识别，无需兼容调试

深度合成功能

图像拼接功能

样品随XY平台沿着设定路径移动,期间由相机连续拍摄多张图像,同时软件自动执行重叠区域的像素对齐,最终将结果以拼接大图的形式进行呈现。

检测方案对比

KN-X5000A VS 工业相机

集成电动变倍物镜

＜5um级缺陷检测

3D尺寸测量与判定

KN-X5000A VS  线激光、线光谱传感器

兼顾2D影像测量与3D 尺寸测量

同轴光路设计，可应对 深孔、台阶结构

3D点云获取无需额外 配置编码器

KN-X5000A VS  面光谱、结构光传感器

小型化设计易于集成 

真彩色特征识别 

图形化编程，开放API

KN服务领域

集成电路

实现晶圆制造及芯片封装中的缺陷检测和质量控制

消费电子

对电路板、软膜电路、五金件、液晶屏等进行检测

新质能源

应用于光伏电池片、锂电池极片、电池包等组件的检测

精密加工

助力加工刀具监测及精密零件的工艺优化

光电通讯

测量光电器件尺寸，检测光纤端面及内部缺陷

先进材料

加速新材料研发，揭示材料微观结构与性能的联系