自旋测试多功能磁光克尔显微镜可对磁性材料和自旋电子芯片进行高分辨磁畴成像，分辨率可达250 nm，配置高度智能化的控制系统和多功能磁场探针台，将光学成像、多维磁场、电学输运表征、微波测试、变温模块集成于一体，一键操作便能实现磁场、电流、自旋轨道矩、自旋转移矩等各种激励条件下的磁动力学过程观察。配备微秒级快速反应磁场，能够进行高精度磁畴速度测量和DMI测量。
光学分辨率 | 250 nm |
物镜 | 5x、20x、50x、100x，无磁 |
面内磁场 | 1T@气隙5 mm 0.5 T@气隙10 mm 0.3 T@气隙16 mm |
垂直磁场 | 0.25T@单极 |
磁场分辨率 | PID闭环反馈调节，分辨率0.05mT |
微秒超快脉冲垂直磁场 | 60 mT，上升特征时间0.5μs，脉冲宽度1μs~10μs |
探针台 | 兼容4~8套无磁探针座 |
电学源表 | Keithley 6221,Keithley 2182A |
测试功能 | 磁畴动态观测，根据克尔信号绘制全局/微区磁滞回线、畴壁运动速度测量、DMI测量、反常Hall电阻、SOT翻转、I-R磁滞回线扫描并同步克尔成像,可获取磁场、电流变化下电子器件霍尔电阻变化过程曲线和对应的克尔图片 |
冀公网安备13110802000160号
