产品简介:
Atom Explorer轻量款原子力显微镜具备亚纳米级高分辨率,用于观察样品表面形貌、纹理,能够在纳米级别到微米级别的尺度上捕捉样品表面的细微结构和微小特征,为材料、芯片等样品的表面形貌提供详尽的视觉信息。该产品还集成了磁力显微镜、静电力显微镜、开尔文探针力显微镜、压电力显微镜;稳定性强,可拓展性良好,提供定制服务。该产品作为高精度形貌表征和纳米磁学、电学测量工具,为教学、科研及生产研发提供更多选择和助力。
产品特点:
● 体积小巧,适用于各种实验室环境
● 经济适用且功能全面
● 多物理场耦合成像技术:
集成接触、轻敲模式,与静电力显微镜(EFM)、开尔文探针力显微镜(KPFM)、压电力显微镜(PFM)、磁力显微镜(MFM)等主流模式,单台设备完成材料形貌、力、电、磁多维度微观分析。
● 多尺寸扫描器选配与快速换装:
为客户提供3 μm × 3 μm × 2 μm、30 μm × 30 μm × 5 μm、100 μm × 100 μm × 10 μm三种高精度压电扫描器选配方案,结合全新结构设计,可实现快速换装,全方位覆盖客户需求。
样品尺寸 | Φ25 mm |
扫描方式 | XYZ三轴全样品扫描 |
扫描范围 | 100 μm × 100 μm × 10 μm 30 μm × 30 μm × 5 μm 3 μm × 3 μm × 2 μm |
Z方向噪声水平 | 0.04 nm |
针尖保护技术 | 安全进针模式 |
图像采样点 | 32×32~4096×4096 |
工作模式 | 接触模式、轻敲模式、相位成像模式、抬起模式、多向扫描模式 |
多功能测量 | 静电力显微镜(EFM)、开尔文探针力显微镜 (KPFM)、压电力显微镜(PFM)、磁力显微镜 (MFM) |



