SYNAPT XS 高分辨离子淌度质谱仪

在科研领域，研究进展缓慢和成本不断上升俨然已成为一项挑战。SYNAPT XS质谱仪是沃特世推出的一套全方位的高性能LC-MS解决方案，不仅克服了竞争对手系统为人诟病的入口选项限制、扫描功能限制或多平台需求，还具有出众的灵活性，可提供更大的分析选择自由度，支持任何应用的科学创新和技术成功。

• 创新技术为出众的分析性能奠定坚实基础

• SONAR和HDMSE提供了一套独特的工具包，用于解析复杂混合物

• 离子淌度大大增加了峰容量和分析选择性

• CCS测量可提高化合物鉴定的安全性
  

• 利用DESI XS和MALDI的全谱图分子成像，深入探索质谱成像技术

• 适配多种色谱入口，高度灵活，支持多种应用

• DIA模式SONAR、MSE和HDMSE可采集每种可检测组分的碎片离子信息，用于明确确认化合物鉴定结果

• 在包括DDA在内的所有采集模式下，从高度复杂的样品中生成丰富的碎片数据

• 借助多种成像技术和随附的高清成像(HDI)软件，简化和精简质谱成像工作流程，并提供多层次、信息丰富的数据
  

• 凭借可靠的鉴定结果、完整质量数分析和出色的重现性，可自动化测定高级结构

• 互补的碎裂技术具有高分辨率和精确的质量数测量性能，有助于发挥MS/MS的更多潜能

推荐用途：仅需在一台离子淌度飞行时间质谱仪上整合互补的工作流程，即可获得高度灵活的多种离子源和采集模式，进行更深入的探索。

借助离子淌度和CSS测量探索更多信息

传统质谱仪基于m/z分离组分。SYNAPT XS还支持在离子淌度实验中，使用分子大小、形状和电荷作为其碰撞截面(CCS)的函数，对分子进行分离。除离子淌度能提供额外的分离维度、增加峰容量和分析选择性以外，CCS测量还可提供额外的分子标识。离子CCS的测量结果有助于确定离子名称或研究其结构。科学家们已经通过离子淌度技术大幅提升了分析复杂混合物和复杂分子的范围和可信度。