JH5302 Bl Test System 低速Flash BIST⽼化测试设备

JH5302 Bl Test System 低速Flash BIST⽼化测试设备搭载自主研发适配NAND、UFS、Emmc、DRAM等Memory器件的老化测试板，针对Memory器件提供长期高低温的测试环境，从而加速模拟器件的长期老化，测试复现常温无法发现的故障现象，目前已经开发JH5302/JH5400/JH5500/JH5510等系列成熟产品，满足FLASh/DRAM存储器件的测试需求，已经完成选代支持UFS4.1的BI测试UFS5.0适配迭代中。