JH5500 Bl Test System ⾼速DRAM⽼化测试设备

JH5500 Bl Test System ⾼速DRAM⽼化测试设备主要针对高速DRAM芯片的高速、宽温度范围、大容量的动态老化测试。搭载高性能chamber温箱，保证高温精度，提高成品率，缩短测试时间。支持最大48个老化单板并行测试，测试速度最高达到200MHz，同时可以支持RDBI功能。已经完成迭代支持UFS4.1的BI测试，UFS5.0适配迭代中。