托托科技磁光克尔显微镜

 
 
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品牌 托托科技
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更新 2026-07-30 16:34
 
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托托科技(苏州)有限公司

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• 追踪平面内数百万点的实时磁性动态信息

磁光克尔显微镜综合测试设备,显微磁畴空间分辨率优于0.5微米,磁光克尔角分辨率优于0.1毫度,支持极向克尔、纵向克尔、横向克尔三种磁光克尔效应测量方式。在追踪平面内数百万点的磁畴动态信息的同时,可搭配探针台实现电学、磁学、光学同步观测。广泛应用于磁学和自旋电子学领域中磁光克尔效应,磁滞回线,磁畴翻转或扩展等观测。

智能照明系统

● 光源稳定且均匀

● 具备极向,纵向和横向测试能力

● 高亮度(4倍于市场上产品)

多功能显微系统

● 线偏振光和圆偏振光

● 提高相差畸变矫正

● 电动显微聚焦

矢量磁场系统

● 垂直磁场模式可达1.4T @1cm 间隙

● 面内磁场可达1.0T @1cm,0.36T @4cm 间隙适配低温恒温器;面内矢量磁场模式可达0.35T

● 面垂直磁场和面内磁场可快速切换

高端相机

● 超动态范围30000:1(十倍提升)

● 高量子效率>80%(1.2倍提升)

● 高速摄像和高分辨率

直流 / 交流探针

● 与外接电表匹配(6221,2400等)

● 配合高频电表

● 配合引线键合器件

高端光学平台

● 气浮隔振

●电子主动反馈隔振


磁光克尔显微镜,赋能磁学和自旋电子学前沿研究

磁光克尔效应(MOKE)作为磁性材料表征的重要方法,自1877年约翰·克尔首次在铁表面反射光中观察到其现象以来,在现代磁学与自旋电子学领域持续发挥着不可替代的作用。其物理本质在1950年随着固体能带理论的完善得以阐明,进而推动研究从单点测量扩展至磁畴结构的可视化观测。
1980年,数码相机与计算机技术的发展使磁光检测设备进入数字化时代,显著提升了设备灵敏度。2000年后,以 Evico Magnetics 为代表的公司实现了设备的标准化与商业化,加上光源技术的持续革新,进一步拓展了其在科研与工业领域的应用深度。

2024年,托托科技基于十年的自主研发,成功推出光学系统数字化(Digital Oblique®)的磁光克尔显微镜,实现了磁光信号测量能力的显著跨越,更推动了磁畴观测从定性走向精确定量表征的新阶段,持续为前沿磁性与自旋研究赋能。

挑战一:在测量面内磁化薄膜时,信号极其微弱,传统设备需手动调节偏振组件操作复杂,且难以捕捉有效数据。

我们的方案:托托科技磁光克尔显微镜独有的Digital Oblique®光学系统数字化技术,通过数字倾角控制技术,可实现程控的分区照明,倾斜角度的控制精度更可达到0.03°。客户无需手动调节,系统将自动完成光路优化与对准,测量结果的重复性极佳,确保您能轻松、可靠地探测到低至2nm的面内Pt/Co/Ta薄膜信号。

磁光克尔效应示意图


挑战二:传统磁性表征方法“加磁不加电,加电不测磁”,导致研究脱离器件真实工作状态,无法观测到最关键的磁动力学过程。

我们的方案:本设备提供直流探针、高频探针,在精确施加直流、脉冲、微波乃至光驱动等多激励源信号的同时,同步观测磁畴动态,一站式实现电、磁、光信号的同步采集与关联分析。

反常霍尔(上)与磁滞回线(下)光电同步测试、相互验证


挑战三:在观测亚微米或周期性纳米结构时,传统设备的空间分辨率不足,导致观测到的磁畴图像模糊、轮廓不清,因此错失判定磁化分布、畴壁类型与动态行为的关键细节,使研究停留在推测层面。

我们的方案:本设备的核心优势之一,是具备优于0.5μm的显微磁畴空间分辨率,您将能清晰探测、定位定量分析以往模糊的微观磁结构。即使对于几十纳米宽的畴壁,系统也能将其勾勒为锐利的边界;对于亚微米尺度的纳米点磁畴阵列,更能清晰分辨其独立单元。

这为精确统计磁畴尺寸、量化畴壁运动、以及表征纳米磁性器件的实际磁态提供了无可替代的直观证据,让您的研究结论建立在清晰、确定的观测基础之上。

(a)为样品Ta(4 nm)/CoFeB(0.7 nm)/MgO(2 nm)/Ta(2 nm)在磁场的驱动实现磁畴运动和翻转,树枝状磁畴,磁矩“1”和“0”信息状态清晰可见。彩色环带表示磁畴壁,白色小箭头表示的是奈尔畴壁中磁矩方向,表示磁畴运动方向。

(b)为样品CoTb(6 nm)/SiN(4 nm)在零磁场附近出现迷宫畴以及孤立斯格明子磁泡结构(Skyrmions Bubble),图中单个稳定的Skyrmions Bubble的尺寸为1μm。为研究基于SK-RM赛道存储器提供光学无损伤探测支持。

1微米光刻磁畴测试

铁磁绝缘体样品 斯格明子磁畴


挑战四:在表征多晶样品、复合薄膜或存在应力梯度的材料时,不同晶粒或区域的磁光响应强度往往差异巨大。传统设备大多成像图像过曝或欠曝的区域无法用于定量分析,导致磁滞回线测量或磁畴统计时数据不完整或失真。

我们的方案:设备搭载了动态范围高达30000:1的科学级相机,在一次曝光中同时捕获极强和极弱的磁光信号,使得强磁区、弱磁区、以及边界(畴壁)的灰度过渡平滑、细腻,图像层次感极强,您将获得高保真、可定量分析的全场磁畴图像,为您的研究提供坚实可靠的量化数据。


托托科技磁光克尔显微镜

设备搭载专利DigitalOblique®光学系统,倾斜角度的控制精度更可达到0.03°,无需手动调控,可完成全自动光路优化,测量重复性。可探测低至2nm面内薄膜信号和1个原子层厚度的垂直各向异性薄膜。另外,设备具备优于0.5μm的显微磁畴空间分辨率,能清晰分辨纳米畴壁与磁畴阵列。

设备同时支持直流、脉冲、微波及光驱动等多激励源,并能同步观测磁畴动态,一站式实现电、磁、光信号的关联采集与分析。

磁光克尔效应历经百年发展,从现象揭示到机理阐明,再到观测技术的数字化与化,持续推动着磁学与自旋电子学研究的深入。展望未来,随着磁性材料与自旋器件不断迈向纳米化与功能化,磁光克尔显微镜将继续作为关键工具,为揭示磁畴动态机理、赋能新一代信息存储与逻辑器件研发提供坚实支撑,助力前沿科技从实验室走向产业应用。

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