检测方式：CMOS 测距
检测距离：120 ± 80 mm
光斑尺寸：1.2 mm @ 120 mm
分辨率：0.001 mm
重复精度：8 um @ 60 ... 180 mm
响应时间：200 us / 500 us / 1 ms / 2 ms
抗环境光：≤ 5000 lux
外壳材质：铝合金
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检测方式：CMOS 测距
检测距离：120 ± 80 mm
光斑尺寸：1.2 mm @ 120 mm
分辨率：0.001 mm
重复精度：8 um @ 60 ... 180 mm
响应时间：200 us / 500 us / 1 ms / 2 ms
抗环境光：≤ 5000 lux
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