对称式长焦距直线光路设计
LS-909 II 融合了Topsizer Plus 激光粒度仪研发过程中积累的创新技术经验 ,提升了硬件系统的可靠性和整体信噪比, 升级了自适应噪声抑制算法 ,并优化了反演算法的矩阵精度 。结合免标定长寿命设计以及可选配的新一代高性能 、易操作的DPF-110A 干法进样器, LS-909 II 具备更高的适用性, 可胜任更宽泛类别和更宽分布样品的测试 。其测试自动化程度高 、重复性出色 、分辨能力强, 同时维护简便 。配套的智能化测控与分析软件支持专业级可自定义报告模板, 内置简易测试操作面板 ,具备报告浏览 、数据对比及多种格式数据导出等功能 ,使粒度测试分析更准确有效,全面满足科研与工业应用的多样化需求。
技术指标
测试原理 | • 全量程米氏散射理论及夫琅和费理论 |
测试范围 | • 0.02 - 3000μm(湿法,取决于样品)、0.1 - 3000μm(干法,取决于样品) |
进样方式 | • 湿法/干法自动进样 |
重复性误差 | • ≤ 0.5%(标样D50偏差) |
对中方式 | • 智能判断自动对中,对中精度0.2μm |
测试时间 | • 1- 2分钟/样品(包含仪器准备和清洗的完整流程,取决于样品) |
探测器通道数 | • 91个角度探测器通道+0环探测器 |
光源 | • 进口氦氖(He-Ne)气体激光器,功率:≥ 2.0mW,波长: 632.8nm,单色性≤ 0.1nm |
激光安全性 | • 整机I级 |
ADC模数转换 | • 18 bit;采样电路最高扫描频率:10kHz(8通道并行) |
工作环境 | • 温度5 - 35 ℃,相对湿度≤ 85% |
输出数据 | • 粒度分布表、粒度分布曲线、平均粒径、D50(中位径)、D10、D90、比表面积、D[4,3]、D[3,2]等。 |
电源 | • 200-240V AC 50Hz |
外观尺寸(L×W×H) | • 主机外形尺寸:1320×340×360mm 主机包装外形尺寸:1600×450×480mm |
产品特性
新一代自适应噪声抑制算法
LS-909 II 在前一代产品基础上升级了自适应噪声抑制算法,通过优化反演算法的矩阵精细度,提升噪声图样的识别与计算匹配能力,使系统能更准确地识别和补偿测量过程中少量噪声对细颗粒测试的影响 。这一优化进一步提升了样品测试的重复性和重现性 ,特别是在低信号强度条件下,对微细颗粒的测量表现出更高的稳定性与准确性。

LS-909 II 新一代自适应噪声抑制算法启用后

LS-909 II 新一代自适应噪声抑制算法启用前
宽广的测量范围内各组分的准确测试性能
LS-909II 采用静态光散射技术 ,能够一次性获取从纳米 、亚微米到毫米级分散颗粒的粒度分布结果 ,无需切换镜头 。同时 ,该仪器测试符合GB/T 19077-2024 粒度分析激光衍射法的国标要求,确保满足不同粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。

LS-909 II 测试某规格氧化铝粉的粒度分布
纳米 、 亚微米超细颗粒的优越测试性能

LS-909 II 测试100 nm(纳米)标准粒子

LS-909 II 测试200 nm(纳米)标准粒子

LS-909 II 测试500 nm(纳米)标准粒子



