EIKOS-UV™ 三维原子探针(APT)

原子探针可为研究和工业领域提供常规的高性能三维纳米分析。

基于原子探针断层分析仪器和应用领域30年的成功经验，CAMECA开发了EIKOS™原子探针显微镜，应用于合金的快速研制和纳米级材料研究。

EIKOS原子探针提供了：

• 具有纳米级微观结构表征的三维层析成像

• 高效率的高空间分辨率单原子探测

• 对所有元素及其同位素的灵敏度一致

• 定量组分测量（亚纳米至近微米级）

• 可提供电压或电压和激光配置

• 标准样品制备方法

EIKOS可提供2种配置：

EIKOS
基础EIKOS系统采用反射器设计，可提供出色的质量分辨能力和信噪比。预先对准的集成反电极确保易用性和高可靠性。电压脉冲系统在各种冶金应用中提供了非常高的数据质量。

EIKOS-UV
完全配置的EIKOS-UV系统结合了基础EIKOS（电压脉冲，基于反射功能，预对准反电极）的所有突出特性，并增加了一个完全集成的激光脉冲模块和计算机控制的焦斑设计，以适用于更大的应用范围。

Eikos-UV可处理各种应用，包括金属、半导体、功能材料、矿物、核结构材料、薄膜和涂层。它的标准样品制备方法和成熟的数据分析程序使其成为纳米材料研究和工业材料开发的一个经济有效的工作平台。