IMS 1300-HR³ 大尺寸几何结构二次离子质谱仪(SIMS)

 
 
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更新 2025-04-09 16:23
 
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应用于地球科学的大尺寸几何结构离子探针

IMS 1300-HR³是一款大尺寸几何结构离子探针,可为广泛的地球科学应用提供非常高的分析性能:使用稳定同位素追踪地质过程,矿物定年,以及确定痕量元素的存在和分布。其高灵敏度和高横向分辨率也使其成为搜索和测量铀颗粒以用于核防护目的的优选工具。

高空间分辨率和高质量分辨率下的高再现性的独特组合

借助新型IMS 1300-HR³,CAMECA极大地提高了已占据市场优选地位的大尺寸几何结构SIMS的性能,现可在高空间分辨率和高质量分辨率下为地球科学界提供高重现性的独特组合。该工具可充分满足高精度和高生产率的小尺度原位同位素测量的需求,并拓展了广泛的研究方向——从稳定同位素、地质年代学和痕量元素到小颗粒等等。

秉承了IMS 1280-HR和之前型号的主要优点:


IMS 1300-HR³的改进及优点:


功能最强大的大型SIMS仪器

IMS 1300-HR³多接收器大几何尺寸二次离子质谱仪(LG-SIMS)具有无与伦比的分析性能, 为地质、宇宙化学和环境科学的广泛应用开辟了空间。

CAMECA的IMS 1300-HR³二次离子质谱仪是继国际知名的IMS 1280-HR后的新一代产品,可为众多应用提供无与伦比的分析性能:使用稳定同位素跟踪地质过程、矿物定年、确定微量元素的含量、筛选和分析大量颗粒。

IMS 1300-HR³型号结合以前IMS 1280-HR成熟可靠的性能,并增加了许多新改进,可在高空间分辨率和高质量分辨率下实现高重现性。

高密度铯或氧一次离子束轰击结合优化的传输率,可实现高精度的稳定同位素研究和高灵敏度的痕量元素分析(锆石中的铅)。多接收器系统确保了稳定同位素比测量(C, O, S, Li, B, Mg等)的出色重现性, 并通过减少总采集时间显著提高仪器的分析效率。

IMS 1300-HR³离子探针可提供显微镜和探针成像功能。由于这些出色的成像功能,该仪器能够以亚微米级横向分辨率绘制主要元素、次要元素和痕量元素及同位素的分布图。


稳定同位素

CAMECA IMS 1300-HR³经过特别设计,可在稳定同位素比值测量中实现出色的精度和重现性。

- 高质量分辨能力,可消除质量干扰

使用多接收器系统同时检测几种同位素

• 检测器噪音小,运行稳定

• 两个离子源:Cs和O分别用于检测负的和正的二次离子

• 分析室具有超高真空环境(UHV),可对大气成分(H, C, N, O)进行精确的同位素表征

• 对电绝缘样品进行有效的电荷补偿(使用垂直入射电子枪)

- 使用自动对中程序精确控制仪器的质量分馏变化。


地质年代学

IMS 1300-HR³具有几个关键仪器功能使其成为最适合U-Pb定年的工具。 

高质量分辨率区分Pb同位素与HfSi分子团离子

高传输率分析低浓度铅

-可提高灵敏度和高重现性分析条件的注氧技术

具有高离子束密度的小束斑尺寸可获得更好的横向分辨率

具有出色的离子成像能力,可用于获得锆石晶粒中Pb和U的图像(不均匀性、带状分布)

强大的地质年代学数据处理软件



痕量元素

IMS 1300-HR³在高质量分辨率下提供最佳灵敏度,分析ppm浓度水平及以下的痕量元素。

分析痕量元素时,必须处理几个质量数非常接近的分子干扰,这些干扰必须使用高质量分辨率和/或能量过滤方法消除。为了获得最好的灵敏度,高强度的氧离子源和铯离子源是必不可少的。IMS 1300-HR³的设计满足所有这些要求。

稀土元素

Pb-U年龄的解释仍然不明确,特别是在需要准确地将压力-温度( P-T) 演化与地质年代学联系起来的变质岩中。

将锆石的生长与压力-温度(P-T) 演化路径联系起来的一种方法是研究锆石颗粒本身以及其他潜在的关键变质矿物的微量元素组成。

得益于高密度氧一次离子束和大能量传输(有助于区分单原子和分子类别(能量过滤技术)),IMS 1300-HR³能够在大质量范围内获得微米级的元素信息。

痕量元素离子成像

锆石或其他基质中痕量和主要元素的离子成像,可以精细观察元素和同位素分布,因此在许多地质或环境应用中具有重要意义。IMS 1300-HR³具有出色的离子成像能力,同时配备了氧离子源和铯离子源,横向分辨率为微米到亚微米。


核微粒

独特的的分析灵敏度结合专用的微粒测量软件,使CAMECA的大型SIMS成为同位素铀颗粒物分析的参考技术。

小颗粒分析独有的灵敏度

IMS 1300-HR³具有诸多独特优势,是进行小颗粒分析的最佳选择:

•  以最小的传输损耗消除背景干扰

•  并行检测所有U同位素,从而缩短了采集时间并 降低了测量不确定性。多接收器系统可以尽可能多地接收离子,因此可以分析最小的颗粒(低至亚微米尺寸范围)

-  离子成像能力用于在样品基质中定位U颗粒,也可在多接收器模式下定位

-  高密度O-/O+离子源提供最佳横向分辨率以优化颗粒分离

•  样品分析台具有出色的位置重复性,便于精确地在目标粒子之间移动。


“APM-SIMS”万法

CAMECA的自动颗粒测量(Automated Particle Measurement, APM)软件可以快速筛选数百万个颗粒,实现自动颗粒检测和同位素表征。

专用软件

IMS 1300-HR³配备自动颗粒测量(APM)功能,对样品进行快速筛选,以确定铀颗粒的位置和富集度。然后在微束条件下重新分析所选颗粒,以获得其精确的同位素组成。

与APM结合使用,IMS 1300-HR³显著提高了为实现核保护目的所进行的铀颗粒同位素分析的总体性能和分析效率。它是唯一一种既能提供样品基质中精确颗粒位置,又能提供精确同位素组成的方法。

APM SIMS方法也可用于天体化学、环境研究、细胞和微生物学,或任何需要在微米至亚微米级颗粒/范围内进行定位和同位素测量的应用。


先进的大几何尺寸二次离子质谱仪设计

高强度离子源

IMS 1300-HR³配备了两个离子源(氧、铯),分别增强了正负二次离子强度。高强度Cs源和射频等离子体氧源可以提供大束流密度的小束斑, 优化了束流稳定性并且延长了使用寿命。这些功能带来了主要的分析优势,如高空间分辨率、出色的数据重现性和高检测效率。

自动进样系统

IMS 1300-HR³配备了经过实践检验的 CAMECA IMS电驱动样品存储室。存储室和分析室之间的样品载台交换完全自动进行,由计算机控制。可在链式或远程模式下分析多个样品载台,显著提高了仪器的使用方便性和生产效率。 样品在Z轴的定位是完全自动化的,可以在 次分析开始时以链式和无人值守模式进行。它确保了样品表面和浸没透镜前挡板之间保持恒定距离,这是高精度测量所必需的。

高分辨紫外光光学系统

利用紫外光显微镜(由威斯康星大学开发)对样品表面光学图像的分辨率进行了优化。它包括用于样品成像的专用软件,极大地提高了定位精度, 确保简单高效地移动样品并进行仪器操作。

优化的质谱仪

IMS 1300-HR³基于具有大半径磁扇区的双聚焦质谱仪。二次离子光学器件经过优化,以执行高质量分辨率和高灵敏度的分析。使用自动离子束对中程序将仪器质量分馏差异降到最低。垂直入射电子枪可在 分析绝缘样品时提供有效的电荷补偿,这确保了良好的信号稳定性,这对于提高重现性必不可少。

多功能的多接收系统

IMS 1300-HR³ 配备了同位素测量的多接收检测系统。这套经过实践检验的系统由五个可移动的接收器单元组成。每个单元都包含一个宽度可调的收集狭缝以及一个电子倍增器( EM) 或法拉第杯(FC)。 此外,还可以在位于两端已安装EM的接收器单元上再同时安装两个额外的FC, 这样一共便可安装七个检测器。该系统的质量测量范围广泛,从锂到铀的同位素均可检测, 可同时测量多种同位素,是功能非常强大的并行检测系统,并具有极高的分析效率和测量精度。

先进的检测器

单接收系统和多接收系统EM基于离散的倍增极设计,可确保不受背景噪音影响, 并提高检测器的输出稳定性。对于FCs, CAMECA电学系统可确保低噪声和非常 稳定的基线。可使用不同的前置放大板,包括用于测量低信号强度的10¹²Ω电阻器板。

IMS 1300-HR³检测器系统可确保在各种 、应用中的高精度,包括精细尺度下的同位素比值测量。

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