C-Swift+ 电子背散射衍射探测器（EBSD）

C-Swift+是一款高速多功能入门级EBSD探测器，专为常规材料分析和高速样品表征而设计。
C-Swift+继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift+也成为一种开创性的EBSD探测器。

• 确保2000点/秒的标定速度

• 在250点/秒速度下，采集622 x 512像素的EBSD花样

• 光纤光学系统设计，对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

• 无失真图像

C-Swift+是一个先进、高速EBSD探测器。和Symmetry S3 探测器一样，C-Swift+使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度，以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift+最大速度为2000 pps，同时可获得高质量的花样分辨率(156 x 128 像素）。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍，确保所有类型样品的可靠标定和高命中率。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合，使C-Swift+能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用，C-Swift+可以以高达250 pps的速度采集622 x 512像素的花样，使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件，从接近传感器到可选的集成前置探测器，都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

C-Swift+探测器为追求速度的测试设立了一个新标准：

• 仅需要8 nA的电子束流，就能达到2000 pps的标定速度

• 光纤光学系统和优化的荧光屏，提供高灵敏度。确保在低剂量和低束流能量下，提供高质量的花样——从而实现最大的空间分辨率

• 最高速下，156 x 128像素的花样分辨率——超过快速CCD探测器的4倍像素但快速CCD探测器速度更慢

• 全分辨率花样（622 x 512像素）——精细的相分析和形变分析的理想选择

• 低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°

• 即使在最快的速度下，也能实现无缝集成EDS

• 波纹管SEM接口，保持SEM真空完整性

• 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前，自动将探测器移动到安全位置

• 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果

• 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像