为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以来,全球已有 1000 台仪器用于这些应用,以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年,HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪,在很短的时间内变得非常流行,2013 年,MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器,As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。
1. 快速
硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度
2. 小巧
便携、体积小、重量轻
内部电池供电
3. 简单
减少日常维护工作(无需液氮)
无需真空泵
各种材料测量直观简单
4. 智能
英文/日文/中文多语言操作界面
Excel数据管理工具
5. 安全
无需担心 X 射线泄漏
本规格 | 原理 | 能量色散型X射线荧光光谱 |
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应用领域 | RoHS, ELV, 无卤 | |
测量元素 | 13Al - 92U | |
样品类型 | 固态,液态,粉末 | |
X 射线发生装置 | X 射线管 | 50Kv(最高),0.2mA |
X 射线分析直径 | 1.2mm, 3mm, 7mm(自动切换) | |
X 射线一次滤光片 | 4种(自动切换) | |
检测器 | 类型 | SDD (硅漂移检测器) |
信号处理器 | DPP (数字脉冲处理器) | |
样品室 | 环境 | 大气 |
样品观察 | CDD 相机 | |
样品仓尺寸 | 460 x 360 x 150 mm [W x D x H] | |
设备 | 操作系统 | 电脑 (Windows® 7) |
供电 | AC适配器(100-240V, 50/60Hz) | |
仪器尺寸 | 590 x 590 x 400 mm [W x D x H] | |
重量 | 60 kg | |
软件 | 分析功能 | 多层膜 FPM法(可选) Sb/As 分析(可选) |