FlexSEM 1000 II 扫描电子显微镜

 
 
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更新 2025-02-28 21:28
 
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日立科学仪器(北京)有限公司

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先进的SEM更为紧凑”
宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。

FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。

项目内容
分辨率*34.0 nm(二次电子像、加速电压:20 kV、高真空模式)
15.0 nm(二次电子像、加速电压:1 kV、高真空模式)
5.0 nm(背散射电子像、加速电压:20 kV、低真空模式)
加速电压0.3 kV~20 kV
倍率×6~×300,000 (照片倍率)
×16~×800,000 (显示器显示倍率)
低真空设置6~100 Pa
电子枪预对中钨灯丝电子枪
样品台3轴马达驱动样品台
X:0~50 mm、Y:0~40 mm、Z:5~15 mm
T:-15~90°、R:360°
最大可观察范围:直径64mm(R联用)*4
最大样品尺寸直径80 mm(选配:直径153mm)
最大样品高度40 mm
尺寸机体:450(宽度)×640(进深)×690(高度) mm
电源盒:450(宽度)×640(进深)×450(高度) mm
选项
  • 高敏感度低真空检测器(UVD2.0)

  • 能量色散型X射线检测器(EDS)

软件Multi Zigzag(连续视野图像导入功能)


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