LS 13 320 XR 粒度分析仪

• 直接测量范围在 10 nm – 3,500 µm 之间

• 自动突出显示合格/不合格结果从而达到更快速的质量控制

• 增强版软件简化了标准测量方法的创建

• 全新控制标准充分验证仪器/模块的性能

发现细微差异

• 扩展测量范围：10 nm – 3,500 µm

• 激光衍射加上先进的偏振光强度差散射 (PIDS) 技术可实现高分辨率的测量并可报告最小为 10 nm 颗粒的真实数据

• 可在单个样品中提供针对多种粒度的准确、可靠的检测 

易于使用的软件

• ADAPT 软件可自动进行合格/不合格检查

• 只需 3 步或更少，预配置方法即可呈现结果

• 简化专家及新手的分析仪操作流程

• 一步覆盖历史数据

• 直观的用户诊断可在取样过程中时刻对您进行提醒

• 简化标准测量的方法创建流程

PIDS 技术可直接检测大小为 10 nm 的颗粒

• 用3 种波长的光（450、600 及 900 nm）通过垂直和水平偏振光照射样品

• 分析仪从多角度测量来自样品的散射光

• 每种波长的水平及垂直辐射光之间的差异提供了高分辨率的粒度分布数据