SPM-Nanoa 高分辨扫描探针显微镜

 
 
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更新 2025-01-06 16:15
 
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详细说明

自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理

使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟*

*自动观察模式,扫描范围1um× 1um ,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。


传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作。 


丰富多样的扫描模式

从形貌观察到基于力曲线测量的物性分析,支持广泛的扫描模式。这意味着可以兼顾高分辨率与物性测试。 

形貌接触模式、动态模式
机械性能相位模式、侧向力模式、力调制模式、Nano 3D Mapping Fast *
电磁学电流模式* 、磁力模式* 、表面电势模式* 、压电力模式* 、STM *
纳米加工矢量扫描模式*
环境支持液体环境*


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