M4 TORNADO 微区X射线荧光光谱仪（Micro-XRF）

M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息，甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化，可对任何类型的样品的点、线和二维区域扫描（Mapping）进行高速分析; 样品类型可为固态，液态，颗粒等。

靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后，在保证荧光强度的同时可产生极小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 （SDD），可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。

M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管，它提供了不同的靶材以及准直器，可实现设备分析功能的极大拓展。

其他可选高级配置选项：

• He吹扫能够极大提高轻元素检测灵敏度，使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测

• 可快速更换的地质样品测试支架，适用于矿物薄片和岩芯测试

• XMethod 软件，支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法

• 用于矿物 分析的AMICS 软件

测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、"On-the -fly" mapping ，单点测试时间可低至 1 ms。

测量样品高达 7kg。大型真空样品仓，可自由调节真空度，最低可至2mbar，自动He或N2吹扫，可检测含水样品中的轻元素。

单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap，包含所有像素点光谱信息以及光学图像。

定量分析单点，线扫描，面扫描测试结果。配置的基本参数方法，可选的XMethod软件包，实现对镀层等样品的准确定量。

处理数据。强大的分析软件，可在面扫描结果中选择任意对象（椭圆，矩形，多边形）进行光谱提取，线扫描数据提取，最大像素光谱，相分析。

扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置，以满足您的分析需求。