DIL 402 Expedis Classic 高可靠性热膨胀仪

DIL 402 Expedis Classic 集成了热膨胀测量领域的尖端技术，为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于先进的 NanoEye 测量系统，在测量范围与精度两方面达到了新的高度。

温度范围: RT ... 1600°C（不同炉体）

升温速率: 0 ... 50°C/min

测试气氛: 动态或静态；氧化、惰性

样品形态: 固体、液体、粉末

样品载荷: 10mN ... 3N，可变，可调制（选配）

选配扩展功能: c-DTA®、谱图检索、速率控制烧结

量程: ±5000μm

测量分辨率: 2nm

测试模式: 单样品/双样品，样品长度自动检测

独创的Multitouch技术 : 标配

独创的Nanoeye位移传感及载荷控制技术: 标配

DIL基本功能

软化点检测 软件控制的力的调整（包括：线性力，恒定力，斜变力，步阶力） 调制力 密度测量 用于温度校正和检测热效应的c-DTA® 功能 速率控制烧结 RCS 曲线识别，通过数据库对比识别未知的ΔL/L0曲线 密度测量，能够测量样品密度的连续变化，可应用于固体、液体、熔体、粘稠样品（如涂料），以及用于计算各向异性材料的体膨胀。