JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜

JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。

主要特点                                                                                                                                      

1.   装置主体  

●  可配置Cs校正器和CFEG

●  高速高精度的stage，与现有的马达驱动控制相比速度上提高了3倍，具备与Piezo驱动控制同等效力的微动控制能力。

2.   操作简单  

●  即使TEM的操作经验少也能直接操作设备

·   大量减少使用操作盘，直接按顺序点击显示画面上的按钮就能得到最终的图像

·   也可以用鼠标来进行调焦等操作

·   可以兼容GATAN CCD

●  自动调整功能

·   自动聚焦、自动调整样品高度、自动电子束传递、自动定位等

3.   自动获取数据的功能  

●  按照操作菜单可自动获取数据

·   TEM像、STEM像、元素面分布

·   可以对应栅格上的多个样品

4.   和测长软件链接  

●  在TEM上设定倍率可以对其他倍率进行校正

·   可以对多台JEM-ACE200F取得的数据自动测长

5.   远程操作  

●  可在隔壁房间操作设备

●  远程操作及多地同时观察（依赖于网络环境），可与多个事务所一边讨论一边观察  

6.   封闭鏡筒，使环境耐受性提高  

●  噪音、气流、室温变化得到了抑制

●  内壁装有吸音材料，可进一步防噪音

7.   从分析仪器到分析工具  

－STEM/TEM分析自动化、改进操作流程、品质管理稳定提高－