Nanolog 模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪

我们的模块化科研级Nanolog稳瞬态荧光光谱仪是专门为纳米技术和纳米材料的研究而设计的。

Nanolog®系列荧光光谱仪是专门为纳米技术和纳米材料等前沿研究而设计的。可实现几毫秒内获得完整光谱，几秒内获得而完整的激发发射三维矩阵。

基于世界公认的Fluorolog®技术，Nanolog®除可实现紫外和可见光区域内荧光检测外，也可在800-1700nm的近红外范围内检测荧光信号（可选择多通道检测至2um，单通道检测至3um。Nanolog®配有专门设计的软件Nanosizer，是对SWNTs、量子点等纳秒材料进行分类和能量传递计算的理想选择。

技术特点

• 超快三维光谱采集速度（在几秒钟内即可快速完成激发-发射矩阵扫描）

• 阵列InGaAs检测器具有近红外高灵敏度

• 高分辨率

• 实现SWNTs种类和系列的鉴定和量化分析

• 兼容从紫外到近红外等各种检测器

• 光电倍增管可现在最高灵敏度和时间分辨分析

• CCD和阵列InGaAs检测器可实现数据快速采集

• 量子点混合物能量传递实验研究

• 模块化设计

Nanosizer®  软件

Origin® Pro 8 的Nanosizer®简化了单壁碳纳米管激发-发射三维图谱的模拟和分析过程。Nanosizer与我们的Nanolog荧光光谱仪一起使用，使用具有专利技术的双卷积算法，专门为单壁碳纳米管手性和直径的分析而设计。

Nanosizer® 会进行SWNT近红外激发-发射荧光光谱数据模拟，同时与所测实际数据进行比较。根据内置数据库，Nanosizer®可以迅速将特定的峰值定义到特定的SWNT（n,m）结构，还可生成螺旋结构图。同时，Nanosizer®大大简化了SWNT的FRET研究、长度分布分析和纳米管纯化分析。除此之外，Nanosizer®还可提供适合支持未来ISO和ASTM标准的平台，用于识别和提纯半导体的SWNTs。

完美用于SWNT中的FRET、长度分布分析和纯化应用分析

OriginPro® 8中Nanosizer®的特点和优势

• 高效的区域选择和初始模型参数化

• 峰数量几乎无限制

• 峰值参数的全局链接和固定

• 所有模型峰值参数的全面约束

• 快速模型参数化

• 实现多种二维分析光谱图形状：高斯、洛伦兹和Voigt卷积

• 残差统计加权

• 全功能的拟合峰参数统计分析

• 拟合结果和残差的图形化和表格化显示

• 以能量（cm-1，eV）或波长（nm）为单位的拟合数据

• 将峰值参数与用户可编辑的库（包含螺旋角、直径和(n,m)分布图和表格）进行比较

• 为ISO和ASTM标准设计用于半导体SWNT识别/定量

• 450 W 连续氙灯，用于从紫外到近红外区域激发

• 几秒钟完成激发-发射三维矩阵扫描

• InGaAs阵列检测器。800-1700nm；256 x 1,512 x 1和1024 x 1三种像素格式，间距小至25 µm；噪声低至650 erms，液氮制冷以获得最佳信噪比；可选择电制冷；扩展检测范围选项（1.1 - 2.2 µm）。

• iHR320成像光谱仪：焦距=320mm；f/4.1；色散=2.31nm/mm；分辨率=0.06nm（带狭缝）；软件控制的三层光栅塔轮（所有测量均采用1200 grove/mm的光栅

• 可提供固态近红外检测器，紫外到近红外的光电倍增管，时间相关单光子计数的寿命测试（100ps到1ms，紫外到近红外），门控技术的寿命测试（1μs到>10s，紫外到近红外），以及频域寿命测量（10ps到10μs，紫外到近红外）。