XGT-9000 微区X射线荧光分析仪

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详细说明

XGT-9000 以其精心设计的激发系统保证卓越性能和灵活性，X射线发生器具有高达 50 kV 和 1000 µA 的高输出。此外可以通过我们多样化的X射线头提供多种尺寸（10μm - 1.2mm）的激发用初级 X 射线，其中就包括超高强度X射线头（probe），以实现快速测量。

抓取清晰的图像对于微区XRF至关重要，XGT-9000 提供高分辨率相机，可以获取整个样品及其细节显微镜水平的图像。同时，多种照明模式保证图像的清晰度，即便是透明或有较强反射的样品。

XGT-9000 样品仓可容纳各种样品，包括微型碎片、印刷电路板、硬币、薄片、粉末、液体、晶圆，并根据需求提供各种样品架，此外最多可以选择 4 种测量环境来提高灵敏度。

XGT 9000提供透射和荧光X射线双探测器，透射X射线检测器使用户能够检测样品的内部缺陷和异物，而荧光X射线检测器（配置轻元素检测器）检测范围可从C到Am。

功能强大的XGT 9000 软件，包括全面完整的基本测试功能，如单点测试、多点测试、线分析和Mapping测试等。除了基本测试功能外，还可以在软件套件中添加高级模块，以提供更丰富的用户体验。

型号	XGT-9000	XGT-9000SL
基本信息
仪器	微区X射线荧光分析仪
样品类型	固体、液体、颗粒
检测元素	轻元素检测器：C* – Am (常规检测器：F – Am)
样品仓尺寸	450(W) x 500(D) x 80(H)	1030(W) x 950(D) x 500(H)
最大样品尺寸	300(W) x 250(D) x 80(H)	500(W) x 500(D) x 500(H)
样品最大质量	1 kg	10 kg
光学观察	两个带物镜的高分辨率相机
光学设计	垂直同轴 X 射线和光学观察
样品照明/观察	顶部、底部和侧向照明/明场和暗场
X-射线管
功率	50 W
电压	最高50 kV
电流	最大1 mA
靶材	Rh
X射线光光学系统
X射线头数量	最多配置四个
光谱优化初级X-射线滤光片	5个位置
检测器
荧光X-射线检测器	硅漂移检测器（SDD）
透射X射线检测器	NaI(Tl)
扫描分析
扫描范围	100 mm x 100 mm	350 mm x 350 mm
步进尺寸	2 mm	4 mm
运行模式
样品环境	全真空/局部真空/大气环境/He吹扫（选配）	局部真空/大气环境/He吹扫（选配） *He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。