JH5400 Bl Test System ⾼速Flash⽼化测试设备

JH5400 Bl Test System ⾼速Flash⽼化测试设备主要针对高速Nand Flash芯片的高速、宽温度范围、大容量的动态老化测试。服务器UI可以对每个槽位进行独立或并行的控制，通过下发不同的Pattern对Nand Flash芯片进行模式切换、擦除、读写、状态查询等功能的测试，从而筛选出失效的Nand Flash芯片。已经完成迭代支持UFS4.1的BI测试，UFS5.0适配迭代中。