JHP560 Series 第三代功率半导体动态可靠性测试系统

JHP560专为第三代功率半导体设计的动态可靠性测试系统（DHTGB/DHTRB）,核心功能是通过大容量、高性能测试（宽电压、高频、高dv/dt），对栅氧缺陷、界面态劣化、材料缺陷等引发的早期失效进行高效评估与筛选，从而提升器件可靠性和良率。