纳米级X射线成像：开启科学探索之门
同步辐射X射线纳米CT能够实现纳米级的无损三维成像，但您只能申请非常有限的线站机时。想象一下，如果不用等待同步辐射的时间，而且可以在自己的实验室里实现同步辐射实验，是多么理想的状态。有了蔡司Xradia Ultra系列产品，就意味着您拥有了一台可以提供同步辐射纳米级图像分辨率的高质量三维无损X射线显微镜（XRM）。该系列有蔡司Xradia 810 Ultra和蔡司Xradia 800 Ultra两种型号供您选择，它们均为您在最常用的应用中获得出色图像质量而量身定制。
在原生环境中无损成像
空间分辨率高达50 nm、体素尺寸低至16 nm的纳米级三维X射线成像
三维和四维原位实验
量化纳米结构并将数据用于建模输入
探索软硬材料
使用无损纳米级成像为您的研究助力
● 利用极为出色的无损成像，在原生环境下以三维方式观察纳米级现象。
● 这是一款填补亚微米级图像分辨率XRM（如蔡司Xradia Versa）和分辨率更高但具有破坏性的三维成像系统（如FIB-SEM）之间空白的设备。
● 使用集成的原位解决方案，在您的实验室就能进行图像分辨率高达50 nm、体素尺寸低至16 nm的先进的无损三维/四维X射线成像。
● 将这些特殊的功能添加到您的分析产品组合中，以加速您的研究。
实现出色的衬度和图像质量
● 在不破坏您样品的情况下，切片不会受伪影影响，以三维方式观察缺陷。
● 利用吸收和Zernike相位衬度，以出色的衬度和图像质量显示细节。将两种模式的数据相结合，能够显示出单一衬度无法实现的特征。
● Xradia 810 Ultra和Xradia 800 Ultra旨在为您常用的应用提供出色的图像质量。您可以根据研究材料所需要的优化衬度、通量和材料透过率来选择适合您的版本。
● 使用Xradia Ultra，可获得具有同步辐射效果的纳米级X射线成像。
拓展您实验室的界限
● 同步辐射品质的成像效果让您的研究水平更上一层楼。消除同步辐射装置上的准入障碍，在自己的实验室中就能按计划获得同等的纳米级三维成像效果。
● 进行以往在基于实验室的成像中不可能实现的四维和原位研究。
● 另外，还可以进行原位力学、热学、电化学和环境测试。
● 使用关联工作流并连接到其他成像分析方法（如蔡司Xradia Versa、蔡司Crossbeam、分析）。通过包括专用的Python API在内的简洁用户界面，为广大成像装置用户提供服务。
在一个特殊的装置中使用X射线解析纳米级的特征
对于旨在用三维无损和纳米级图像分辨率来全面表征样品的显微技术人员来说，他们需要能够提供以下功能的光学元件：
● 纳米级图像分辨率的三维断层扫描数据集
● 出色的图像质量
● 聚焦效率
● 在有限的实验时间内获得优良的信号
● 在低吸收样品中也能显示出特征
制造出坚固且高效的X射线光学元件曾经非常困难，这阻碍了可实现高分辨率成像的X射线显微镜的发展。蔡司Xradia Ultra采用了来源于同步辐射研究的先进光学元件，使您能够充分利用X射线的无损特性，在实验室中完成纳米级的三维成像。
蔡司Xradia Ultra X射线显微镜的光路图
通过使用以下元件，尽享来源于同步辐射的架构的优势：
● 反射毛细管聚光镜，可在最大通量密度下匹配光源特性和图像
● 带菲涅尔波带片等的物镜，获得专利 (US 8526575 B1 和 US 9640291 B2) 的纳米加工技术为您的研究提供出色的图像分辨率和聚焦效率的光学元件
● 用于Zernike相位衬度的相位环，可显示低吸收样品的细节
● 基于闪烁体的高衬度、高效探测器，与CCD探测器光学耦合，在有限的实验时间内为您提供优良的信号
● 随着样品的旋转，可以收集到各种投影角度的图像并将其重构为三维断层扫描数据集
