创新型inLux™ SEM-拉曼联用接口，可在您的扫描电子显微镜 (SEM) 样品室中集成高性能的拉曼分析能力。在执行SEM成像的同时，您还可以采集拉曼光谱并生成2D和3D图像。在SEM成像模式和拉曼数据采集模式之间切换时，样品将保持固定不动，因此在比较拉曼图像和SEM图像时，您可以确信精确的共点定位。
inLux接口提供各种拉曼分析功能。您可以从单点或多点采集光谱，也可以生成2D和3D共焦拉曼图像。inLux接口的配置齐全，标配支持所有这些操作，用户能够分析样品上体积超过0.5 mm x 0.5 mm x 0.5 mm的区域。它完全由光栅进行位置控制，精度达到50 nm，可确保生成精确的拉曼图像。
主要优点
信息详实 — 在执行SEM成像的同时，共点执行拉曼、光致发光 (PL) 和阴极荧光 (CL) 光谱分析。
通用 — inLux接口可以安装在不同制造商的各种SEM机型上，可适应各种尺寸的样品室，而且无需对SEM进行任何修改。
无损 — inLux的探头只需单击就能完全缩回。这样可确保探头在不使用时不会干扰SEM的其他功能或工作流程。
测定分布 — 标配共焦拉曼成像功能，可轻松测量分布不均匀的样品。
观察样品 — 具有大面积光学成像和拼图功能，方便用户直观地观察样品并定位所关注的区域。
配置多样 — 支持多达两种不同的激光激发波长，另有一个可选的CL模块。
自动化 — 只需一键切换激光波长，便可对复杂样品进行拉曼分析。
inLux接口应用广泛
识别污染物
拉曼光谱是一种非接触且无损的分析技术，可提供高度准确的化学信息，因此成为识别污染物的理想工具。碳和有机污染物很难通过元素分析进行区分，然而利用拉曼光谱分析这些污染物简直手到擒来。针对光学显微镜观察不到的小颗粒污染物，SEM可以定位这些小颗粒并研究其形貌。然后，inLux接口可以直接对准这些颗粒进行拉曼分析，无需移动样品。
材料分析
材料所表现出的许多新型特性都源自于其尺寸、形状或厚度。石墨烯、纳米棒和纳米管等材料充分说明了扫描电子显微镜的高放大倍数是直观地观察样品的关键。除了揭示材料的化学和结构性质外，拉曼分析还可以提供有关物理特性的信息。inLux接口可以生成拉曼图像以展示结晶度、应变和电子特性，而且这些图像还可以与SEM图像相关联。
