无畸变、支持定制
国产手动台阶仪 JS10B，稳定可靠的重复性测量，采用金刚石探针，无畸变的观察样品区，实时观察扫描区域，突破三个核心技术，国内研发生产，便于售后服务。
泽攸科技JS系列台阶仪作为国产高精度表面测量设备的代表，凭借其创新的技术架构、灵活的应用场景及可靠的测量性能，可以对微纳结构进行膜厚和台阶高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量，在高校、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LED、太阳能、MEMS微机电、触摸屏、汽车、医疗设备等行业领域有着广泛应用。
JS系列台阶仪通过金刚石探针与样品表面的接触扫描，将微观轮廓的垂直位移转化为电信号，结合高灵敏度传感器与信号处理算法，实现纳米级精度的表面特征捕捉。其核心技术亮点在于超微压力恒定控制系统，通过精密调节探针与样品间的接触压力，既避免了对软质材料的损伤，又确保了测量过程的稳定性。此外，设备搭载的摄像头实时成像系统，可同步观察样品区域与探针尖端的位置关系，辅助用户精确定位特征结构，显著提升测量效率。
作为国产科学仪器的突破性成果，JS系列台阶仪打破了国外品牌在高端表面测量设备领域的长期垄断，凭借高性价比与本地化服务优势，成为国内高校、科研机构及制造企业的优选设备。
特点：
量测精确、操作便捷、体积小巧、超高性价比
• 应用范围：
▲ 刻蚀、沉积和薄膜等厚度测量
▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翘曲度等材料表面参数测量
▲ 各式薄膜等应力测量
JS10B | |
样品 | 单片（厚度≤10mm） |
样品尺寸 | ≤150mm |
样品材质 | 硅、钽酸锂、玻璃等（不透明，半透明） |
重复性测量偏差 | ≤0.5nm（1σ 1um标准块重复扫描30次） |
最大测量范围 | 80um |
垂直分辨率 | 0.05nm 满量程 |
探针加力范围 | 0.5~50mg |
力控制 | 恒定 |
采样速度 | 200Hz |
扫描方向 | 左右双向 |
扫描最大采集点数 | 200万点 |
扫描速度 | 5um/s - 100um/s |
样品台运动方式 | 可实现水平（X/Y），旋转（RZ），手动控制 |
XY样品台行程 | 150mm（快慢速调节） |
Z样品台行程 | 10mm |
样品旋转台 | ±360° |
标准探针 | 曲率半径≥2um 角度60°（标配） |
亚微米探 | 曲率半径≤1um 角度60°（选配） |
软件功能 | 台阶、粗糙度等表面形貌测量，应力测量 |
