Talos F200X G2 透射电子显微镜

适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。

STEM 成像与化学分析

Talos F200X (S)TEM 可在多维度下对纳米材料进行快速、精确的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的创新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半导体以及工业环境高级研究和分析的理想选择。

最近对在高分辨率下进行大面积相关性成像的需求有所增加，因为这使研究人员在获得统计学上稳定的数据的同时也能保留其观测结果的背景。Thermo Scientific Maps 软件（由 Thermo Scientific Velox 软件启用）自动采集样品的一系列图像，并将它们拼接在一起以形成一幅大尺寸最终图像。甚至可以在无人值守的情况下进行图像采集。 APW（自动化 颗粒工作流程） 包具有本节所述的所有优点，并利用  Thermo Scientific Avizo2D软件在专用处理 PC 上添加了独特的处理功能。您可以自动获取大小、面积、周长、形状、因子、接触点等纳米颗粒参数。全自动且无人值守软件包可使您全天候使用 Talos F200X (S)TEM ，获得更好的统计数据并显著改善可重复性（因为不存在操作员偏差）。

Align Genie 自动化软件减轻了新手操作员的学习负担，减少了多用户环境中的紧张气氛，并为经验丰富的操作员缩短了数据获得周期。