AM-7000系列白光干涉仪

AM-7000可用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，以“面”的形式获取表面3D形貌，通过专用软件对3D形貌进行处理和分析，RMS重复性可达0.002nm。

AM-7000搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件，最高扫描速度400um/秒，3200Hz加以业内首创SST+GAT算法，可瞬间完成最高500万点云采集。

产品特性：

8秒完成测量

亚纳米级精度

搭载压电陶瓷

超大角度特性

丰富测量工具

支持数据拼接

超多镜头适配

广泛应用场景