EPMA-1720 Series 电子探针显微分析仪

前沿设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析

X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜一筹

从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率

同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像，SEM图像和光学图像在同一显示器上，减少视线的移动。