SKYSCAN 1272 CMOS 版建立在值得信赖的 SKYSCAN 1272 桌面 X 射线显微镜平台上，并结合了最新的 X 射线技术，将 XRM 提升到一个新的水平。
最先进的 16 兆像素 CMOS X 射线探测器可提供具有卓越分辨率的高对比度图像。增大的探测器视野和增强的 X 射线灵敏度可将扫描时间缩短两倍。
SKYSCAN 1272 CMOS 凭借Genius模式可自动选择参数。只需单击一下，即可自动优化放大率、能量、过滤、曝光时间和背景校正。
而且，由于能让样品和大尺寸CMOS探测器尽可能地靠近光源，它能大幅地增加实测的信号强度。正是因为这个原因，SKYSCAN 1272 CMOS 的扫描速度比探测器位置固定的常规系统最多可快5倍。
自动进样器
SKYSCAN 1272 CMOS 可以选择配合一个有16个位置的外置自动进样器，以增加进行质量控制和常规分析时的处理速度。
自动进样器可以容纳不同尺寸的样品，样品直径最大可达25 mm。
可以随时很方便地切换样品，不会中断正在进行的扫描过程。系统可以自动检测新样品，LED可以显示每一次扫描的状态：准备、扫描和完成。
原位试验台
布鲁克的材料试验台可以进行最大4400 N的压缩试验和最大440 N的拉伸试验。所有试验台都能通过系统的旋转台自动联系到一起，而无需任何外接线缆。通过使用所提供的软件，可以设置预定扫描试验。
布鲁克的加热台和冷却台可以达到最高+80ºC或最低低于环境温度低30ºC的温度。和其它的试验台一样，加热和冷却台也不需要任何额外的连接，系统可以自动地识别不同的试验台。通过使用加热台和冷却台，可在非环境条件下检测样品，从而评估温度对样品微观结构的影响。
