用于分析放射性样品的高性能屏蔽式 SIMS 仪器
众所周知，动态二次离子质谱仪（SIMS）适用于广泛的核科学应用，但对于高放射性材料（如辐照核燃料）的研究，则需要使用特定的仪器。
ACTINIS 源于经过实证的 CAMECA IMS 7f 系统，设计用于在安全环境中对放射性样品进行高精度元素和同位素分析：它集成在一套生物保护装置中，以保护操作人员在样品转移和分析过程中免受污染和辐照影响，并配有多个用于大限度地减少人工操作的特殊装置（如安全进样系统）。
划时代的 SIMS 性能
ACTINIS 保留了 IMS 7f/7f-GEO 型号的优异特性，可提供高灵敏度的深度剖析和同位素比测量，以及亚微米级横向分辨率的元素和同位素图谱。
双等离子体和铯一次离子源的组合，确保了对正电和负电物质有最佳的灵敏度
二次离子光学收集系统具有高电场，可优化传输，还有光束对中，可实现优异的重复性，其光学选通功能还可实现高动态范围的深度剖析
双聚焦质谱仪（用于能量聚焦的静电分析仪，具有快速峰值切换功能的叠层磁铁）
带有一个电子倍增器（EM）和两个法拉第杯（FC）的特殊检测系统，采用先进的测电技术（低噪声和稳定的基线）
用于仪器调谐的直接离子成像
扫描离子成像，用于以高横向分辨率绘制大小区域的图谱。
先进的屏蔽技术
包装中包含机械图纸和生物保护装置（仪器屏蔽装置）的详细规格，确保了辐射安全以及轻松与 SIMS 仪器进行连接。ACTINIS 配备了足够的手套箱（阿尔法保护）和铅壁室（伽马保护），可以分析在距离样品 5 厘米处测得的活性（剂量率）高达 2 Gy/h 的样品。
全自动和易于使用
ACTINIS 的自动化水平高，配有多个用于最大限度地减少人工操作的特殊装置，如安全进样系统等。我们开发了特殊工具，并对离子光学装置进行了改进，现在用户能够轻松在屏蔽装置内部进行维护。
ACTINIS™ 的灵感来自于希腊语“ἀκτίς”（射线），同时也指核应用中特别重要的化学元素，即锕系元素。
