AL-Y3500xrdf型仪器是一种结合X射线衍射技术（XRD）和X射线光谱技术（EDS）的高端分析仪器，主要用于材料的元素成分分析和结构表征。通过一次测量，可同步获取材料的元素组成、晶体结构、物相组成、晶粒尺寸等关键信息，广泛应用于材料科学、地质学、物理学、化学、生物学、半导体、催化剂表征、金属都城分析、纳米技术等领域。

●高效集成：一次测量可同时获得衍射与光谱数据，避免传统分步测量的耗时与误差。

●高灵敏度与精度：采用先进探测器与算法，检测限低至ppm级，结构解析精度达原子级别。

●多功能拓展：各种功能附件满足不同测试目的需要支持多种样品形态（粉末、块状、薄膜等），适配高温、低温、高压等特殊环境测试高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度。

●硬件集成：共享X射线源、样品台及控制系统，保证两种技术的光路同步与信号匹配。

●数据融合：通过专用软件对衍射图谱与光谱数据进行联合解析，结合X射线衍射（XRD）的晶体结构信息与X射线荧光光谱（XRF）的元素组成数据，实现物质的全维度表征。

●未知样品中一种和多种物相鉴定，可以同时分析40种元素。

●采用多准直器、索拉狭缝系统，具有自主知识产权专利技术。

●晶体结构解析(Rietveld结构分析)、软件内包含基本参数发，经验系数法等。

●非常规条件下晶体结构变化(高温、低温条件下)，可以搭载多种样品台。

●薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度。

●微区样品的分析、金属材料织构、应力分析。