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横向3240轮廓点数，实现高精度、快速扫描
横向最高3240轮廓数据点，可以获得物体更精细的图像。更宽动态范围和高灵敏度的光学系统，使超高精度的稳定量测成为可能。自研高速CMOS芯片，最快可以实现25KHz的超快扫描速度。
应用场景
（1）手机外壳平整度检测
（2）键盘铆钉段差检测
技术参数
| 型号 | LS-8020 | LS-8080 | LS-8120 | LS-8200 | LS-8400 | ||
| 订货号 | 612400001 | 612400002 | 612400003 | 612400004 | 612400005 | ||
| 基准距离 | 20mm | 75mm | 120mm | 200mm | 420mm | ||
| 测量范围 | Z轴(高度) | ±3.2mm | ±10mm | ±26mm | ±47mm | ±110mm | |
| X轴 (宽度) | 近 | 17mm | 38mm | 74mm | 113mm | 210mm | |
| 基准距离 | 17.5mm | 41mm | 85mm | 133mm | 265mm | ||
| 远 | 18mm | 44mm | 96mm | 153mm | 320mm | ||
| 光源 | 类型 | 蓝色半导体激光 | 红色半导体激光 | ||||
| 波长 | 405nm | 638nm | |||||
| 激光等级 | 3R | ||||||
| 横向轮廓数据数量*1 | 3240点 | ||||||
| 线性度*2 | Z轴(高度) | ±0.035%F.S. | |||||
| 重复精度*3 | Z轴(高度) | 0.3μm | 0.8μm | 2μm | 4μm | 8μm | |
| 分辨率 | X轴(宽度) | 5.5μm | 14μm | 30μm | 48μm | 100μm | |
| 采样频率 | 全幅模式 | 最高可达 1250 profiles/s | |||||
| ROI模式 | 最高可达 25000 profiles/s | ||||||
| 数据传输 | 千兆以太网 | ||||||
| 温度特性 | 0.01%F.S./℃ | ||||||
| 环境耐性 | 外壳防护等级 | IP67 | |||||
| 环境温度 | 0 至 +50℃ | ||||||
| 环境湿度 | 20 至 85%(无冷凝) | ||||||
| 振动 | 10 至 57Hz双振幅1.5mm，X、Y、Z方向各2小时 | ||||||
| 抗冲击 | 15g 半正弦冲击，周期6ms，从X、Y、Z三个方向的正负方向冲击 | ||||||
| 供电电压 | +24VDC ± 10% | ||||||
| 材料 | 铝合金 | ||||||
| 重量 | 约900g | 约970g | 约1000g | 约1100g | 约1500g | ||
| *1：可更改轮廓数据间隔。更改后，X方向的测量范围也变动； *2：测量目标物为湾测标准物体，所得轮廓数据经64次平滑处理； *3：测量目标物为湾测标准物体，在基准距离上取4096次平均值即为该值； | |||||||
