作为集思广益、通力合作的成果，SELECT SERIES Cyclic IMS融合了创新的环形离子淌度谱分离技术与前沿的高性能飞行时间质谱技术，可助力高水平科研人员在科学探索过程中解锁更多可能性。
SELECT SERIES Cyclic IMS可基于质量和淌度两项参数来选择离子，这项环形离子淌度(cIM)特有的关键功能在学术界和工业界的研究中展现了出众的灵活性和强大的能力。借助离子淌度和质谱分析，您可以按形状以及m/z分离异构体，测量离子的碰撞截面(CCS)，并获得明显更干净的质谱数据。
将环形离子淌度(cIM)分离技术与ToF质谱仪相结合
出色的离子淌度分辨率带来出众的分离性能，让您对结果充满信心
执行独特的IMSn实验，实现更高的选择性和高级表征
支持淌度前的质量数选择，及利用淌度选择母离子和子离子
提高实验灵活性，通过三个不同的碎裂区域解决复杂问题
推荐用途：用于鉴定和快速监测化学反应中共流出的同分异构代谢物