提供高分辨率 X 射线光电子能谱和成像的多技术表面分析仪
结合了高灵敏度、高分辨率定量成像以及多技术联用能力的 Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXi X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针将满足您对提高分析性能和灵活性的需求。
ESCALAB QXi XPS 微探针是一种可扩展和优化的多技术仪器，具有无与伦比的灵活性和可配置性。它非常灵敏，可在几秒钟内产生高质量的光谱。系统控制、数据采集、处理和报告无缝集成在强大的 Thermo Scientific Avantage 数据系统中。由直观软件驱动的尖端技术保证了世界一流的结果和生产力。ESCALAB QXi XPS 微探针具有独特的双检测器系统，还提供具有出色空间分辨率的优质 XPS 成像。
| 单色 X 射线源 |
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| 分析 |
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| 离子源 |
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| 真空系统 |
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| 样品台 |
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| 包括标准分析技术 |
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| 可选的分析技术 |
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| 可选配件 |
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| 样品制备选项 |
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