赛默飞世尔科技公司  

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用于高性能表面分析的 X 射线光电子能谱仪

高性能X 射线源

X 射线单色器允许在50 µm 至 400 µm 的分析区域内以 5 µm 的步长进行选择选择 ，以寻求所需的信号最大化。

优异的电子光学系统

高效电子透镜、半球形分析仪和检测器可实现卓越的检测和快速数据采集。 

样品视图

使用 K-Alpha XPS 系统的专利光学观察系统和 XPS SnapMap 聚焦样品，帮助您快速确定分析测试区域。

绝缘样品分析

获得专利的双束电子源将低能量离子束与低能量的电子（小于 1 eV）耦合，防止分析过程中的样品带电，从而在大多数情况下消除了荷电效应。

深度剖析

使用 EX06 离子源进行更深层表面的分析。自动源优化和气体处理功能确保卓越的性能和实验重现性。

数码控制

由 Avantage 数据系统指导的直观操作使 K-Alpha XPS 系统成为多用户、测试中心和注重高效操作和高测试量的 XPS 专家的理想选择。

可选样品台

提供可选的各种特殊样品台，用于变角 XPS、样品加偏压测试或从手套箱惰性转移样品。