赛默飞世尔科技公司  

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Thermo Scientific™ Spectra™ 300 S/TEM 是一款具有极高分辨率、像差校正的扫描透射电子显微镜，适用于各种材料科学应用。

建立在一个超稳定的基础上

所有的Spectra 300 (S)TEM都安装在新平台上，旨在通过被动和（可选配）主动隔振提供前所未有的机械稳定性和最高成像质量。

该系统安装在一个完全重新设计的外壳内，内置屏幕显示，便于装载和取出标本。这是电子显微镜首次可以对无矫正器和单矫正器配置时的不同高度提供完全模块化和可升级性，从而为不同的房间配置提供最大的灵活性。

 Spectra 300 (S)TEM可配置高能量分辨率电子源

Spectra 300 (S)TEM 可选配高能量分辨率极场发射枪 (X-FEG)/Mono 或超高能量分辨率 X-FEG/UltiMono。两种电子源的单色器分别使用 OptiMono 或 OptiMono+ 实现每种配置的最高能量分辨率，通过软件单击操作自动激发和调整。

X-FEG/Mono 可以从 1 eV 自动下调到 0.2 eV，而 X-FEG/UltiMono 可以从 1 eV 自动下调到<30 meV。

两种电子源均可在 30 – 300 kV 范围内工作，以适应最广泛的标本。两者都可以在单色器关闭的标准模式下运行，以适应需要高亮度的实验，包括 STEM EDS 映射、超高分辨率 STEM 或高总电流，如 TEM 成像，所有这些都不会影响到系统的其他指标。这种灵活性使 Spectra 300 (S)TEM 能够满足在一个系统上进行大量各种实验工作的要求。

 还可配置超高亮度X-CFEG光源

Spectra 300 (S)TEM 可选配新型冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 具有极高的亮度 (>>1.0 x 108 A/m2/Sr/V*) 和窄能量分布 (<0.4 eV)，并能在 30 – 300 kV 范围内操作。这同时提供了高分辨率 STEM 成像和高探针电流，实现高通量、快速采集 STEM 分析与高能量分辨率。凭借 X-CFEG 和 S-CORR 探针像差校正器的强大组合，可以常规地实现亚埃 (<0.8 Å) STEM 成像分辨率和超过 1000 pA 的探针电流。

 提供最高分辨率的STEM成像性能

最新的 5 阶聚光镜像差校正器增强了机械稳定性，与高分辨率 (S-TWIN) 宽间隙极靴相结合，使得仪器具有最高的市售 STEM 分辨率指标。

Spectra 300 (S)TEM 配置 X-FEG/Mono 或 X-FEG/UltiMono，使用 30 pA 探针电流，或者 X-CFEG 使用 100 pA 探针电流，可提供的 STEM 分辨率指标为：300 kV 下 50 pm，60 kV 下 96 pm，30 kV 下 125 pm。

 Spectra 300 (S)TEM的原位功能

Spectra 300 (S)TEM 采用一体化 S-TWIN 宽间隙极靴，可兼容多种用于 原位实验的样品杆。Thermo Scientific NanoEx 系列样品杆可与显微镜无缝集成，实现基于 MEMS 设备的加热，可在高温下进行原子成像。下面为金纳米颗粒被加热到 700 摄氏度，并且在速度增强的 Thermo Scientific Ceta 相机上以高于每秒 30 帧的速率 4k 像素分辨率全帧拍摄到的运动。结果是得到了高空间和时间分辨率的高动态分子行为。

Spectra 300 (S)TEM的规格