Phenom ParticleX AM Desktop SEM

Desktop SEM 用于增材制造分析，能够观察到最大体积达 100 mm x 100 mm 的大样品。

Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop 扫描电子显微镜 (SEM) 是一款旨在用于增材制造，微量纯度实现的多用途台式 SEM。

实现对数据的内部控制：

• 监控金属粉末关键特性

• 适用于粉末层和粉末进料增材制造工艺

• 识别颗粒大小分布、单个颗粒形态以及异物

 Phenom ParticleX AM Desktop SEM  配备了一个电镜室，可分析最大 100 mm x 100 mm 的大样品。专有的排气/装载机制使其具有世界上最快速的排气/负载循环，能提供高通量。 

主要特点

一般 SEM 使用

 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 具有一个带有准确快速电动样品台的电镜室，可分析最高 100 mm x 100 mm 样品。尽管样品尺寸更大 ，但专利的循环加载机制可使通气/加载循环保持到行业领先的 60 秒或更短的样品加载时间。实际上，这可改善 SEM 系统的通量因子。

增材制造

 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 可测量各种大小和形状参数，例如最小和最大直径、周长、长宽比、粗糙度和铁氧直径。所有这些结果均可以 10%、50%、90% 值（例如、 d10、d50、d90）显示。

元素绘图和谱线扫描

用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。这对于涂层、涂料以及其他多层应用特别有用，可用于分析边线、涂层、横截面等

二级电子检测器

ParticleX AM Desktop SEM 可选提供二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，非常适合揭示详细的样品表面信息。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。

性能数据