低能X射线吸收谱仪利用X射线荧光光谱分析(XRF)技术，通过X射线照射到样品上激发荧光,利用Johansson弯晶聚集荧光到探测器上,可探测实时光谱,同时通过弯晶直线运动到不同位置改变 Bragg角,获得全能量段能谱。
产品特点
●Johansson弯晶+罗兰圆内布置+大光源光斑,覆盖能量范围2- 5keV
●三块晶体覆盖Bragg范围30-65°
●自动样品架，快速自动换样
●采用高精度Johansson晶体,具有高集光效率和信噪比
●专业的应用技术支持和数据分析支持
●软件界面友好,具有较强的交互性及直观性
●高精度、高稳定性能量扫描机构,提高能量分辨率
主要参数
| 探测器 | 面阵探测器 |
| 光源 | XRF端窗光源，W靶，100W |
| 单色器晶体 | 25mm×25mm,半径R100mm的Johansson弯晶 |
| 主要晶体类型 | Si(111)、Si(220)、α石英晶体 |
| 能量范围 | 2-5keV |
| 系统真空度 | 5×10-3Pa |
应用领域
新能源、催化、环境科学、材料科学、生命科学