Von Hamos柱面弯晶谱仪采⽤柱面弯晶对弧矢方向光束进行聚焦，子午方向⾊散分光，该谱仪具有高分辨率和高效率等特点，同时可以通过晶体的扫描或多通道模式，获得较宽的测谱范围。
产品特点
● ⾃主弯晶器件
● ⾼分辨率
● ⾼效率
● ⾼真空兼容
● 兼容CCD、IP板探测
● 具备⾼精度瞄准系统
主要参数
● 光谱仪型号：XSpeC-VH
● 能量范围：6~8keV(可定制)
● 分光器件：SiO2 (10-10)
● 兼容CCD、IP板探测
● 兼容真空度：5.0×10-3 Pa
● 具备辐射屏蔽功能
● 能谱离线标定
● 能量分辨本领: (Res.P=E/dE) : R>3000,晶体 @ 6.8 keV &7.9keV
测试数据
